德国Fischer DUALSCOPE MP0涂层测厚仪
详细信息
| 品牌:德国Fischer费希尔 | | 加工定制:否 | | 型号:DUALSCOPE MP0/MPO | |
| 类型:涂层 | | 测量范围:2 mm | | 显示方式:LED | |
| 电源电压:9 V | | 外形尺寸:64*30*85 mm | | | |
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪简介:
德国fischer
公司生产DUALSCOPE MP0/MPO
涂层测厚仪集合了磁性测厚仪(P-MPOD
)和涡流测厚仪(I-MPOD
)两种仪器的功能,可用于测量铁基及非铁基体上涂层的厚度。如:
1. 钢铁材料上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。
2. 铝、铜、金等箔、带材料及纸张、塑料膜的厚度。
3. 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。
4. 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。
5. 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪特点:
*符合国家标准GB/T4956
和GB/T4957
,可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。
*采用双功能内置式探头,无需更换探头,可自动识别铁基或非铁基体材料,并选择相应的测量方式进行精确测量。
*符合人体工程学设计的双显示屏结构,可以在任何测量位置读取测量数据。
*采用手机菜单方式快速选择功能。
*仪器可设定上下限,测量结果超出或符合上下限数值时,仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪技术参数:
可测量的涂镀层系统
(测量方法) |
NF,Iso/Fe
磁性钢铁基材上非磁性镀层和非导电涂层的厚度(磁感应方法) 和
Iso/NF
非磁性金属基材上非导电涂层的厚度
(电涡流方法) |
测量范围 |
NF,Iso/Fe 0- 2000 µm (0 - 78 mils)
Iso/NF 0- 2000 µm (0 - 78 mils) |
测量误差
以Fischer标准片为准 |
For applicationsNF,Iso/Fe
0 ... 75 µm (0 -3mils) ±1.5 µm
75 ... 1000 µm (3 -39mils) ±2%
1000 ... 2000 µm (39-78mils) ±3%
ForapplicationsIso/NF
0 ... 50 µm (0 -2mils) ±1µm
50 ... 1000 µm (2 -39mils) ±2%
1000 ... 2000 µm (39-78mils) ±3% |
重复精度
以Fischer标准片为准 |
ForapplicationsNF,Iso/Fe
0 ... 50 µm (0 - 2mils) ±0.25 µm
50 … 2000 µm (2-78 mils) ±0.5 %
ForapplicationsIso/NF
0 ... 100 µm (0 - 4mils) ±0.5µm
100 … 2000 µm (4-78mils) ±0.5% |
重量 |
85 g (2.73oz)(不含电池);135 g (4.34 oz) (含电池) |
尺寸 |
W x D x H: 64 mm x 30mmx 85 mm (2.5” x 1.2” x 3.4”) |
电源 |
2 x battery LR6.AA1.5V |
功耗 |
Max.0.2Watt |
环境温度 |
操作温度5°- 40°C (41°-104°F) ; 储存温度: 5°-60°C (41°–140°F) |
相对湿度 |
30 ... 90%(无凝水) |
测量数据内存 |
*多999个测量读数
即使没有电池,内存中的数据也能保存 |
*小测量间隔 |
2 秒 |
注:本公司保留对上述参数的*终解释权,因技术改进而引起的变化恕不另行通知。
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪标配:
两节5
号电池、主机一台;
铁、铝基体各一块;
标准片一片;
手提仪器盒;
操作手册。
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪测量涂镀层厚度方法步骤:
1. 仪器开启后,把仪器放在要测量工件上,等待仪器发出测量声响。这种方式可以自动开启仪器。
2. 把仪器提离工件。测量声响后显示读数。说明:若太早提起仪器(
未有声响前)
,错误信息 “Er6”
会出现。重复步骤1
。
3. 当仪器已在开启状态时,读数会马上显示。仪器放在测量工件上及提起后均有显示。
DUALSCOPE MPO涂层测厚仪校准
4.校准需要有下面几项:底材(形状和底材物料要与待测部件一致)和一片标准片(
仪器随机的75 µm
左右标准片)
。说明:校准将删除内存中的所有读数。
5.按[CAL]
键。
显示"Base" (
即 “
未镀过的底材”)
在底材上测量五次左右.
每次测量后,会显示当前的读数。
6.按[OK]
键.
显示 0.00
和STD1 (
即校准标准片 # 1).
把校准标准片放在底材上,并测量5
次左右。
每次测量后,屏幕上会显示当前读数。
7.用﹤或﹥键调整第4
步的*后一个数值至标准片的标称值,如“75 µm”
。标准片的标称值注明在标准片上。
8.按 [OK]
键。
完成校准程序.
仪器返回测量状态.